DOI: https://doi.org/10.30837/1563-0064.1.2018.152796

ДЕДУКТИВНЫЙ АНАЛИЗ И ДИАГНОСТИРОВАНИЕ ЛОГИЧЕСКИХ X-ФУНКЦИЙ

Владимир Иванович Хаханов, Игорь Валериевич Емельянов, Михаил Михайлович Любарский, Светлана Викторовна Чумаченко, Евгения Ивановна Литвинова, Лина Викторовна Ларченко

Аннотация


Предлагается структурная модель взаимодействия X-функций и производных компонентов, ориентированных на синтез и анализ цифровых систем в целях уменьшения времени проектирования и тестирования вычислительных устройств. Вводится понятие простых X-функций от конечного числа переменных, которые характеризуются отсутствием минимизации и наличием свойств тестопригодности для решения задач синтеза тестов, моделирования и диагностирования. Формулируются метрические свойства X-функций от конечного числа переменных для оценки качества проверяющих тестов путем дедуктивного моделирования проверяемых константных неисправностей на кубитных структурах даных. Предлагается аналитическое выражение для синтеза кубитных покрытий X-функций от конечного числа переменных в целях последующего синтеза и анализа тестов проверки и диагностирования неисправностей. Синтезируются дедуктивные формулы транспортирования входных списков неисправностей на внешние выходы для X-функций от конечного числа переменных, для построения секвенсора моделирования дефектов, инвариантного к входным тестовым наборам. Предлагается кубитный и квантовый методы безусловного диагностирования дефектов, использующие параллельные логические операции для повышения быстродействия online поиска дефектов.


Ключевые слова


проектирование; тестирование; кубитное моделирование; кубитное диагностирование; Х-функция; кубитные структуры данных; кубитное покрытие.

Полный текст:

PDF(Русский)

Литература


Abramovici M., Breuer M.A., Friedman A.D. Digital System Testing and Testable Design. Comp. Sc. Press, 1998. 652 р.

Fujiwara H. Fault Simulation. Logic Testing and Design for Testability. 1. MIT Press, 1985. P. 84-108.

Karibskij V.V., Parhomenko P.P., Sogomonjan E.S., Halchev V.F. Osnovy tehnicheskoj diagnostiki. Kn. 1. M.: «Jenergija», 1976. 346s.

Parhomenko P.P., Sogomonjan E.S. Osnovy tehnicheskoj diagnostiki. Optimizacija algoritmov diagnostirovanija, apparaturnye sredstva / Pod red. P.P. Parhomenko. M.: Jenergija, 1981. 320 c.

Malyshenko Ju.V. i dr. Avtomatizacija diagnostirovanija jelektronnyh ustrojstv / Pod red. V.P. Chipulisa. M.: Jenergoatomizdat, 1986.

Hahanov V. I., Litvinova E. I., Hahanova I. V., Guz' O. A. Proektirovanie i testirovanie cifrovyh sistem na kristallah. Har'kov: HNURJe, 2009. 484 s.

Lee S. M., Lee S. E. Static fault analysis for resilient System-on-Chip design // 2015 International SoC Design Conference (ISOCC). Gyungju. 2015. P. 5-6.

Yıldız A., Gürsoy C. C., Gören S. Fault emulation on heterogeneous architectures // 2017 International Conference on Computer Science and Engineering (UBMK). Antalya. Turkey. 2017. P. 905-910.

Hosokawa T., Takano H., Yamazaki H., Yamazaki K. A Diagnostic Fault Simulation Method for a Single Universal Logical Fault Model // 2017 IEEE 22nd Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC). Christchurch. 2017. P. 217-218.

Dhiliban C., Govindaraju S. Fault simulation and analysis of VLSI circuit using n-detect test sets // 2016 Online Int. Conference on Green Engineering and Technologies (IC-GET). Coimbatore. 2016. P. 1-5.

Jinling D., Aiqiang X. A fault simulation method based on mutated truth table of logic gates // 2016 International Conference on Integrated Circuits and Microsystems (ICICM).Chengdu. 2016. P. 28-32.

Hadjitheophanous S., Neophytou S. N., Michael M. K. Scalable parallel fault simulation for shared-memory multi- processor systems // 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS). Las Vegas, NV. 2016. P. 1-6.


Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Copyright (c) 2019 Радиоэлектроника и информатика

Creative Commons License
Эта работа лицензирована Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International License.